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在验证NRF52832的低功耗,没有使用softdevice,外接高速、低速晶振,并使用外部的晶振为时钟源。
现在做了一个简答的测试,功能主要是:
a、将HFCLK、LFCLK开启,分别使用外部晶振。
b、使能一个GPIO作为Led电灯,开启rtc0的比较中断0,作为唤醒,设置时间为5秒,rtc的中断中再次设置下次超时时间为5秒
c、while循环中包含以下几个步骤:
- 关闭HFCLK(即HFXO)(降低功耗)
- 进入休眠(这里为了测试,验证了几种写法:WFI、WFE、WFE SEV WFE、SEV WFE WFE)
- 因rtc中断退出休眠,重新开启HFCLK(即HFXO)
- 电量Led灯,循环等待一段时间,然后关闭Led,这样Led发光更为明显
预期结果:每隔5秒
测试遇到如下问题:
1、在main中的循环中,睡眠之前不关闭HFCLK,功耗比较高有280uA左右,如果关闭HCLK,低功耗可以到3uA。但是我从手册里面看HFCLK描述的是如果没有peripheral需要HCLK,不需要关闭,他自动会进入节能模式,这里的200uA已经是节能模式了吗?感觉还是在运行。从sdk里面看无softdevice的低功耗例程,睡眠之前并没有对HFCLK进行处理。
2、基于1中的需要在睡眠之前进行HCLK的开启和关闭,如果睡眠使用WFI,整个功能是正常的,但是使用WFE或WFE SEV WFE都是不正常的,其实也就是意味着执行WFE的时候,有“原因导致”无法进入低功耗。如果在睡眠前后不对HFCLK进行开启、关闭,则可以正常睡眠,只是功耗高,后定位与HFCLK关闭没有关系,主要是开启导致的问题。但是SEV WFE WFE是正常的,因为SEV WFE会把所有事件清除,后面的WFE会让MCU进入低功耗状态。但是这种方式是有风险的,先清除事件,会导致某个真实的唤醒没有阻止进入休眠。
这里的问题在于clock的中断都是开启的,低功耗后面的HFCLK开启时触发的中断已经在ISR进行事件清除,为什么还会影响接下来的睡眠呢?
以下是测试的代码:
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