SJT（SJ/T) 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

armok.

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1.范围 　　本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 　　本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、结外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。 　　2.规范性引用文件 　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本使用于本标题。 全文PDF：SJT 11394-2009 半导体发光二极管测试方法.rar

armok.

SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

1.范围 　　本标准规定了半导体发光二极管芯片（以下简称芯片）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试就去。 　　2.规范性引用文件 　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然后，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本适合于本标准。 　　GB/T 5698-2001  颜色术语 　　GB/T 11499-2001  半导体分立器件文字符号 　　GB/T 15651-1995 半导体器件  分立器件和集成电路  第5

leeseel

文件只有封页

armok.

leeseel 发表于 2021-12-11 17:49
文件只有封页

我只是搬运工。

xibuol

我来传一份

ywd518

xibuol 发表于 2021-12-11 18:13
我来传一份

谢谢分享！