【正点原子FPGA连载】第二十八章高速双路AD实验
本帖最后由 正点原子 于 2021-1-25 18:22 编辑1）实验平台：正点原子达芬奇FPGA开发板
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第二十八章高速双路AD实验
ADC（Analog to Digital Converter即模数转换器）是大多数系统中必不可少的组成部件，用于将连续的模拟信号转换成离散的数字信号，它们是连接模电电路和数字电路必不可少的桥梁。在很多场合下，ADC的转换速度甚至直接决定了整个系统的运行速度。本章我们将使用双路高速AD模块采集外部模拟信号转换成数字信号，并在ILA中查看信号波形。
本章包括以下几个部分：
2828.1简介
28.2实验任务
28.3硬件设计
28.4程序设计
28.5下载验证
28.1简介
本章我们使用的高速双路AD模块是正点原子推出的一款高速双路模数转换模块（ATK_DUAL_HS_AD），高速AD转换芯片由恩瑞浦公司生产的，型号是3PA1030。
ATK_DUAL_HS_AD模块的硬件结构图如下图所示。
图 28.1.1 ATK_DUAL_HS_AD模块硬件结构图
3PA1030芯片的输入模拟电压转换范围是0V~2V，所以电压输入端需要先经过电压衰减电路，使输入的-5V~+5V之间的电压衰减到0V~2V之间，然后经过3PA1030芯片将模拟电压信号转换成数字信号。
下面我们介绍下这个芯片。
3PA1030芯片
3PA1030是一款恩瑞浦推出的单电压芯片，10位，50 MSPS（Million Samples Per Second，每秒采样百万次）模数转换器，集成片上采样保持放大器和基准电压源。具有高性能低功耗的特点。
3PA1030的内部功能框图如下图所示：
图 28.1.2 3PA1030内部功能框图
3PA1030在时钟（CLK）的驱动下工作，3PA1030内置片内采样保持放大器（SHA），同时采用多级差分流水线架构，保证了50MSPS的数据转换速率下全温度范围内无失码；3PA1030内部集成了基准源，根据系统需要也可以选择外部高精度基准满足系统的要求。
3PA1030输出的数据以二进制格式表示，当输入的模拟电压超出量程时，会拉高OVR信号；当输入的模拟电压在量程范围内时，OVR信号为低电平，因此可以通过OVR信号来判断输入的模拟电压是否在测量范围内。另外3PA1030有一个OE信号，当该信号为高电平时3PA1030输出呈高阻态，低电平则可以正常输出。
3PA1030的时序图如下图所示：
图 28.1.3 3PA1030时序图
上图中，S1,S2,S3分别为三个采样点，可以看到，芯片在时钟的上升沿采样。需要注意的是，3PA1030芯片的最大转换速度是50MSPS，即输入的时钟最大频率为50MHz。
3PA1030支持输入的模拟电压范围是0V至2V，0V对应输出的数字信号为0，2V对应输出的数字信号为1023。而DA经外部电路后，输出的电压范围是-5V~+5V，因此在3PA1030的模拟输入端增加电压衰减电路，使-5V~+5V之间的电压转换成0V至2V之间。那么实际上对我们用户使用来说，当3PA1030的模拟输入接口连接-5V电压时，AD输出的数据为0；当3PA1030的模拟输入接口连接+5V电压时，AD输出的数据为1023。
当3PA1030模拟输入端接-5V至+5V之间变化的正弦波电压信号时，其转换后的数据也是成正弦波波形变化，转换波形如下图所示：
图 28.1.4 3PA1030正弦波模拟电压值（左）、数据（右）
由上图可知，输入的模拟电压范围在-5V至5V之间，按照正弦波波形变化，最终得到的数据也是按照正弦波波形变化。
28.2实验任务
本节实验任务是使用达芬奇开发板及双路AD扩展模块（ATK_DUAL_HS_AD模块）实现双路模数的转换，并在ILA中查看波形。本实验我们模拟输入源来自信号发生器，一个是正弦波，频率1Mhz，幅值9V；另一个是三角波，频率1Mhz，幅值5V。两路模拟信号分别接在双路AD模块的模拟信输入端。
28.3硬件设计
ATK_DUAL_HS_AD模块电路主要包括扩展口，AD芯片，电源电路模块和低通滤波器，衰减电路。下面是扩展口电源电路部分。
图 28.3.1 扩展口及电源电路
由上图可知，双路AD模块使用到的管脚连接道路JP1上，这些管脚包括十位的数据，时钟以及电源等信号。U2用于将5V电压转成VCC+（2.8V）供U1使用，U1将VCC+转成了VCC-（-2.8V），±2.8V电压供双电源运放TPH2501使用。U3负责将5V电压转成VCC（3.3V）。
衰减电路原理图如下图所示。
图 28.3.2 3PA1030原理图
上下两个电路是一样的，我们以上面的电路为例。上图中输入的模拟信号IN1（V1）经过衰减电路后得到AD_IN1（VO）信号，两个模拟电压信号之间的关系是VO=VI/5+1，即当VI=5V时，VO=2V；VI=-5V时，VO=0V。
ATK_HS_AD_DA模块的实物图如下图所示。
图 28.3.3 ATK-HS-AD-DA模块实物图
本实验中，各端口信号的管脚分配如下表所示。
表 28.3.1双路高速AD转换实验管脚分配
对应的XDC约束语句如下所示：
create_clock -period 20.000 -name sys_clk
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN R4}
#ad_data0
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN E19} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN G22} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN J22} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN K22} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN M21} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN N22}
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN E17}
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN D19} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN G21} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN H22} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN K21} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN L21} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN M22}
#ad_data1
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN F21} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN L18} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN G20} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN J21} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN M20} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN N19}
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN T20}
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN F18} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN M18} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN H20} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN J20} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN N20} }]
set_property -dict {IOSTANDARD LVCMOS33 PACKAGE_PIN N18}
28.4程序设计
根据本章的实验任务，高速双路AD模块同时采集两路外部模拟信号，在模块内部实现模数转换，将转换后的数字信号传给FPGA管脚，FPGA内部逻辑分析仪通过抓取数据将外部的模型信号呈现出来。
图 28.4.1是根据本章实验任务画出的系统框图。我们事先准备两路模拟信号源，本实验我们使用信号发生器产生模拟输入源。接到双路AD芯片的信号输入端，在双路AD内部实现AD转换，将转换后的信号送给FPGA，在这里，FPGA只需要给AD芯片输出驱动时钟信号(AD_CLK)和使能信号(AD_OE)，AD芯片便可完成模拟采集并转换成数字信号。
高速双路AD实验的系统框图如图 28.4.1所示：
图 28.4.1 双路AD系统框图
顶层模块的原理图如下图所示：
图 28.4.2 顶层模块原理图
本实验我们只用了一个模块（hs_dual_ad），用来产生AD芯片所需的驱动时钟和输出使能。同时在模块例化了一个ILA，用来观察采集到的模拟信号的波形。
模块的代码如下：
1module hs_dual_ad(
2 input sys_clk , //系统时钟
3 //AD0
4 input ad0_data , //AD0数据
5 input ad0_otr , //输入电压超过量程标志
6 output ad0_clk , //AD0采样时钟
7 output ad0_oe , //AD0输出使能
8 //AD1
9 input ad1_data , //AD1数据
10 input ad1_otr , //输入电压超过量程标志
11 output ad1_clk , //AD1采样时钟
12 output ad1_oe //AD1输出使能
13 );
14
15 //wire define
16 wire clk_out1;
17 wire clk_out2;
18 //*****************************************************
19 //** main code
20 //*****************************************************
21 assignad0_oe =1'b0;
22 assignad1_oe =1'b0;
23 assignad0_clk = ~clk_out1;
24 assignad1_clk = ~clk_out1;
25
26 clk_wiz_0 u_clk_wiz_0
27 (
28 // Clock out ports
29 .clk_out1(clk_out1), // output clk_out1
30 // Status and control signals
31 .clk_out2(clk_out2), // output clk_out2
32 .reset(1'b0), // input reset
33 .locked(locked), // output locked
34 // Clock in ports
35 .clk_in1(sys_clk)); // input clk_in1
36
37 ila_0 u_ila_0 (
38.clk(clk_out1), // input wire clk
39.probe0(ad1_otr), // input wire probe0
40.probe1(ad0_data),// input wire probe1
41.probe2(ad0_otr), // input wire probe0
42.probe3(ad1_data) // input wire probe1
43 );
44
45 endmodule
代码第21到22行产生双路AD的两个输出使能信号，ad0_oe和ad1_oe，请注意，它们是低电平有效，所以我们直接赋值0。23行到24行，产生驱动AD芯片的时钟，ad0_clk和ad1_clk，他们都是由clk_out1取反得来，取反其实就是相移180°。其中clk_out1由时钟模块产生，大小是50M。
28.5下载验证
将高速双路AD模块插入达芬奇开发板J2扩展口，连接时注意扩展口电源引脚方向和开发板电源引脚方向一致，然后将下载器一端连接电脑，另一端与开发板上对应端口连接，最后连接电源线并打开电源开关。
达芬奇开发板硬件连接实物图如下图所示：
图 28.5.1 达芬奇开发板硬件连接实物图
将工程生成的比特流文件下载到FPGA中后，
图 28.5.2 信号发生器与双路AD模块的连接图
连接后在ILA中观察ad_data数据的变化，观察到的波形如下图所示。
图 28.5.3 AD数据接收模块采集到的ILA波形图
由上图可知，输入的ad_data数据分别为三角波和正弦波，频率和幅值与信号发生器发的设定相一致，说明AD-DA实验验证成功。
另外，在这里介绍一下如何将数据设置成波形图显示。首先选中ILA波形图中的ad_data，右键选择Waveform Style，然后选择Analog即可。如果要切换成数据显示的话，同样选中ad_data，右键选择Waveform Style，然后选择Digital就可以了，如下图所示：
图 28.5.4 ILA波形显示设置界面
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