求问：过零检测中限流电阻和上/下拉电阻取值计算原则
网上推荐的过零检测方法中有很多采用的是光藕过零检测，学生愚笨求问其中限流也上下拉电阻R1、R2、R3的取值原则和计算方法，其中R2大小的改变对过零后高电平大平直和陡峭度影响比R1要大，这是为什么呢？不知道用光藕可控硅驱动晶闸管这样正确否？http://cache.amobbs.com/bbs_upload782111/files_37/ourdev_623473QEH92W.JPG
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点击此处下载 ourdev_623476VZTWST.pdf(文件大小:94K) (原文件名:SIEMENS_IL4218.pdf) r2的大小 会影响光耦 次级的二极管 进入深度饱和，恢复时间慢
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