辐射骚扰不合格,机上用的是22.1184M;其辐射骚扰测试数据出现晶振的倍频,请问下各位有
将机子拿去认证,检验结果是:辐射骚扰不合格,机上用的是22.1184M;其辐射骚扰测试数据出现晶振的倍频,44.22MHZ;66.36MHZ;88.50MHZ;110.58MHZ;请问下各位有什么办法处理这个问题?电源处加磁珠,还是地线加粗,还是把晶振
用铁线包起来; 这个还是得多实验下,要烧一些钱。EMI对外辐射其实也挺麻烦的。我是没搞过。
但有一点小经验分享下:
1、晶振下方不要走其他走线,只做敷铜接地处理,晶振外壳也先接地试试看。PCB的敷地还是很重要的,可以显著降低地平面的阻抗,同时也对EMI辐射有一定的抑制作用。
2、MCU的电源脚要做好去耦,靠近MCU引脚加个 “派”型滤波器。磁珠效果也是可以的,但是磁珠是有频率段的,最好多更换几个参数的磁珠试试。
3、晶振频率比较高,如果是有源晶振的话,估计EMI会低一些。 地平面阻抗不连续,是产生EMI的一个主要因素之一。 可以用有源晶振上串接一个小于50欧姆的电阻,通常在10-20欧姆左右,然后对地接一小于30P的电容试一试。用示波器看晶振波形没有上下过冲即可。 晶振是很强的干扰源,晶振下面不要走其它信号线和电源线,此外晶振附近要全部覆铜。 查看晶振引脚附近是不是有电源脚和地脚,在它们之间接个104电容,再就是看下晶振的走线。最好是搞根地线把晶振的2根线包围着再接到芯片地上去。另外,对外的各个接口,将其与外壳(金属的)相连。
另外,你看下你的PCB图,看下它芯片的电源是如何走线的,是包了很大一个圈还是地线和电源线挨的很近(这种方法最好)。反正就是电源流进去了,你还要考虑下它返回的路径,不要只一股脑就全部铺地解决了。电源走的范围越大,那它就越容易产生较强的EMI。 电路板布线问题,关键是检查从哪个途径泄露出来的 试试减小晶体激励功率 晶体外壳接地,
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