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发表于 2012-12-27 11:34:44
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23、微电流测试仪有什么用?
微电流测试仪用途其实很多,例如微光测试、半导体器件漏电流测试、超高阻测试、电容漏电测试、绝缘材料测试、静电领域应用、各种研究。
我简单做了一些样品,测试了在较低电压下的漏电,结果发现,很多绝缘材料的漏阻差别比较大,有的不到1T,也有的比1T高很多。另外,很多材料有介质吸收现象,表现为读数非常不稳定,电阻读数为负(即自身释放电荷)。
A、3.9pF的磁介质电容,5E13欧
B、20pF独石,>1E14欧,有介质吸收现象
C、某9014三极管,bc节反向0.08pA,be节反向0.03pA
bc节正向0.1V时0.8pA,be节正向0.1V时0.6pA
D、某5类双绞线,>1E14欧,有介质吸收现象
E、某6类双绞线,5E12欧
F、普通双线,1E11欧
G、老式单联可变电容,介质吸收现象严重
H、电位器,外壳与电阻之间,5E11欧
I、电路板相邻走线,有焊接松香时1E11欧,清理后1E13欧,酒精清洗后5E14欧
以上,除注明外均为加上1V电压的测试结果。可以看到,常见的绝缘材料的电阻是非常高的。
当然,还有一条很明显的规律,也许太明显了,并不引人注意。这就是,越高阻的东西,就越需要小电流。换句话说,越小电流的东西,越只能测试超高阻。在电压高较高、电流超级微小的场合下,被测试的电阻只能是超高电阻。
除了这些应用之外,这里再说两点简单的、本身相关的:
a、测试运放的Ib;
Ib可以用这种电路自测,即先采用小的Rf直读Vos,然后再用大的Rf得到Ib=V/Rf-Vos,如果Ib比较小,Rf可以用到比较大,甚至1T。
Ib也可以用积分法测试,就是只用Cf不用Rf,这样就是一个积分电路了,用输出电压上升率来求得Ib。
http://www.national.com/rap/Story/0,1562,4,00.html
这种做法的麻烦之处,就是需要一个尖端为特富龙的金属按棒经常对积分电容短路。
b、测试超高阻作为Rf在mV级别电压下的表现(阻值、电压系数、介质吸收现象)。
超高电阻特性往往很特殊,测试高阻时往往用高电压。但恰恰很多高阻在低电压下有用场,但表现完全不同,而低压和高阻势必需要极微电流的测试。以下这个10T在低压下的表现就不好:
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